Robust Inference for One-Shot Device Testing Data under Weibull Lifetime Model
- Balakrishnan, N.
- Castilla, E.
- Martin, N.
- Pardo, L.
ISSN: 1558-1721, 0018-9529
Datum der Publikation: 2020
Ausgabe: 69
Nummer: 3
Seiten: 937-953
Art: Artikel
ISSN: 1558-1721, 0018-9529
Datum der Publikation: 2020
Ausgabe: 69
Nummer: 3
Seiten: 937-953
Art: Artikel