Robust Inference for One-Shot Device Testing Data under Weibull Lifetime Model

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
  3. Martin, N.
  4. Pardo, L.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Reliability

ISSN: 1558-1721,  0018-9529

Argitalpen urtea: 2020

Alea: 69

Zenbakia: 3

Orrialdeak: 937-953

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TR.2019.2954385 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus