Robust Inference for One-Shot Device Testing Data under Weibull Lifetime Model
- Balakrishnan, N.
- Castilla, E.
- Martin, N.
- Pardo, L.
ISSN: 1558-1721, 0018-9529
Ano de publicación: 2020
Volume: 69
Número: 3
Páxinas: 937-953
Tipo: Artigo
ISSN: 1558-1721, 0018-9529
Ano de publicación: 2020
Volume: 69
Número: 3
Páxinas: 937-953
Tipo: Artigo