Robust Estimators and Test Statistics for One-Shot Device Testing under the Exponential Distribution

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
  3. Martin, N.
  4. Pardo, L.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Information Theory

ISSN: 1557-9654,  0018-9448

Datum der Publikation: 2019

Ausgabe: 65

Nummer: 5

Seiten: 3080-3096

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TIT.2019.2903244 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus