Robust Estimators and Test Statistics for One-Shot Device Testing under the Exponential Distribution

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
  3. Martin, N.
  4. Pardo, L.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Information Theory

ISSN: 1557-9654,  0018-9448

Argitalpen urtea: 2019

Alea: 65

Zenbakia: 5

Orrialdeak: 3080-3096

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TIT.2019.2903244 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus