Defect Detection from Multi-frequency Limited Data via Topological Sensitivity

  1. Funes, J.F.
  2. Perales, J.M.
  3. Rapún, M.-L.
  4. Vega, J.M.
Revista:
Journal of Mathematical Imaging and Vision

ISSN: 1573-7683,  0924-9907

Año de publicación: 2016

Volumen: 55

Número: 1

Páginas: 19-35

Tipo: Artículo

DOI: 10.1007/S10851-015-0611-Y GOOGLE SCHOLAR
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