Calibration of coercive and stray fields of commercial magnetic force microscope probes

  1. Jaafar, M.
  2. Asenjo, A.
  3. Vázquez, M.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Nanotechnology

ISSN: 1536-125X

Datum der Publikation: 2008

Ausgabe: 7

Nummer: 3

Seiten: 245-250

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TNANO.2008.917785 GOOGLE SCHOLAR
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