Calibration of coercive and stray fields of commercial magnetic force microscope probes
- Jaafar, M.
- Asenjo, A.
- Vázquez, M.
ISSN: 1536-125X
Argitalpen urtea: 2008
Alea: 7
Zenbakia: 3
Orrialdeak: 245-250
Mota: Artikulua
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Nanotechnology