Calibration of coercive and stray fields of commercial magnetic force microscope probes

  1. Jaafar, M.
  2. Asenjo, A.
  3. Vázquez, M.
Revista:
IEEE Transactions on Nanotechnology

ISSN: 1536-125X

Ano de publicación: 2008

Volume: 7

Número: 3

Páxinas: 245-250

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TNANO.2008.917785 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus