A methodology to analyze the fault tolerance of demosaicking methods against memory single event functional interrupts (Sefis)

  1. Aranda, L.A.
  2. Sánchez-Macián, A.
  3. Maestro, J.A.
Revista:
Electronics (Switzerland)

ISSN: 2079-9292

Any de publicació: 2020

Volum: 9

Número: 10

Pàgines: 1-12

Tipus: Article

DOI: 10.3390/ELECTRONICS9101619 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor
Font de les dades: Scopus