Diverse double modular redundancy: A new direction for soft-error detection and correction

  1. Reviriego, P.
  2. Maestro, J.A.
  3. Bleakley, C.J.
Revista:
IEEE Design and Test

ISSN: 2168-2356

Any de publicació: 2013

Volum: 30

Número: 2

Pàgines: 87-95

Tipus: Article

DOI: 10.1109/MDT.2012.2232964 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus