Diverse double modular redundancy: A new direction for soft-error detection and correction

  1. Reviriego, P.
  2. Maestro, J.A.
  3. Bleakley, C.J.
Revista:
IEEE Design and Test

ISSN: 2168-2356

Ano de publicación: 2013

Volume: 30

Número: 2

Páxinas: 87-95

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/MDT.2012.2232964 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus