Diverse double modular redundancy: A new direction for soft-error detection and correction

  1. Reviriego, P.
  2. Maestro, J.A.
  3. Bleakley, C.J.
Aldizkaria:
IEEE Design and Test

ISSN: 2168-2356

Argitalpen urtea: 2013

Alea: 30

Zenbakia: 2

Orrialdeak: 87-95

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/MDT.2012.2232964 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus