Validation and optimization of TMR protections for circuits in radiation environments

  1. Ruano, O.
  2. Maestro, J.A.
  3. Reviriego, P.
Actas:
Proceedings of the 2011 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2011

ISBN: 9781424497560

Año de publicación: 2011

Páginas: 399-400

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/DDECS.2011.5783120 GOOGLE SCHOLAR
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