Improving memory reliability against soft errors using block parity
- Reviriego, P.
- Argyrides, C.
- Maestro, J.A.
- Pradhan, D.K.
ISSN: 0018-9499
Datum der Publikation: 2011
Ausgabe: 58
Nummer: 3 PART 2
Seiten: 981-986
Art: Konferenz-Beitrag
ISSN: 0018-9499
Datum der Publikation: 2011
Ausgabe: 58
Nummer: 3 PART 2
Seiten: 981-986
Art: Konferenz-Beitrag