Improving memory reliability against soft errors using block parity

  1. Reviriego, P.
  2. Argyrides, C.
  3. Maestro, J.A.
  4. Pradhan, D.K.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Datum der Publikation: 2011

Ausgabe: 58

Nummer: 3 PART 2

Seiten: 981-986

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/TNS.2011.2109965 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus