Improving memory reliability against soft errors using block parity

  1. Reviriego, P.
  2. Argyrides, C.
  3. Maestro, J.A.
  4. Pradhan, D.K.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Argitalpen urtea: 2011

Alea: 58

Zenbakia: 3 PART 2

Orrialdeak: 981-986

Mota: Biltzar ekarpena

DOI: 10.1109/TNS.2011.2109965 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus