Improving memory reliability against soft errors using block parity

  1. Reviriego, P.
  2. Argyrides, C.
  3. Maestro, J.A.
  4. Pradhan, D.K.
Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Ano de publicación: 2011

Volume: 58

Número: 3 PART 2

Páxinas: 981-986

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1109/TNS.2011.2109965 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus