A methodology for automatic insertion of selective TMR in digital circuits affected by SEUs

  1. Ruano, O.
  2. Maestro, J.A.
  3. Reviriego, P.
Revista:
IEEE Transactions on Nuclear Science

ISSN: 0018-9499

Año de publicación: 2009

Volumen: 56

Número: 4

Páginas: 2091-2102

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/TNS.2009.2014563 GOOGLE SCHOLAR
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