A method to eliminate the event accumulation problem from a memory affected by multiple bit upsets

  1. Antonio Maestro, J.
  2. Reviriego, P.
Zeitschrift:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Datum der Publikation: 2009

Ausgabe: 49

Nummer: 7

Seiten: 707-715

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2009.05.002 GOOGLE SCHOLAR
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