Reliability analysis of memories suffering multiple bit upsets

  1. Reviriego, P.
  2. Maestro, J.A.
  3. Cervantes, C.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1530-4388,  1530-4388

Argitalpen urtea: 2007

Alea: 7

Zenbakia: 4

Orrialdeak: 592-601

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TDMR.2007.910443 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus