Reliability analysis of memories suffering multiple bit upsets

  1. Reviriego, P.
  2. Maestro, J.A.
  3. Cervantes, C.
Revista:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1530-4388,  1530-4388

Ano de publicación: 2007

Volume: 7

Número: 4

Páxinas: 592-601

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TDMR.2007.910443 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus