Compositional mapping of surfaces in atomic force microscopy by excitation of the second normal mode of the microcantilever

  1. Rodríguez, T.R.
  2. García, R.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 2004

Volumen: 84

Número: 3

Páginas: 449-451

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.1642273 GOOGLE SCHOLAR
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