Single Event Upsets Under Proton, Thermal, and Fast Neutron Irradiation in Emerging Nonvolatile Memories

  1. Korkian, G.
  2. Leon, D.
  3. Franco, F.J.
  4. Fabero, J.C.
  5. Letiche, M.
  6. Morilla, Y.
  7. Martin-Holgado, P.
  8. Puchner, H.
  9. Mecha, H.
  10. Clemente, J.A.
Revista:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Any de publicació: 2022

Volum: 10

Pàgines: 114566-114585

Tipus: Article

DOI: 10.1109/ACCESS.2022.3217527 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor