Single Event Upsets Under Proton, Thermal, and Fast Neutron Irradiation in Emerging Nonvolatile Memories

  1. Korkian, G.
  2. Leon, D.
  3. Franco, F.J.
  4. Fabero, J.C.
  5. Letiche, M.
  6. Morilla, Y.
  7. Martin-Holgado, P.
  8. Puchner, H.
  9. Mecha, H.
  10. Clemente, J.A.
Revista:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Ano de publicación: 2022

Volume: 10

Páxinas: 114566-114585

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/ACCESS.2022.3217527 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor