SEE sensitivity of a COTS 28-nm SRAM-based FPGA under thermal neutrons and different incident angles

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Revista:
Microprocessors and Microsystems

ISSN: 0141-9331

Año de publicación: 2023

Volumen: 96

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MICPRO.2022.104743 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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