High energy X-ray diffraction analysis of strain and residual stress in silicon nitride ceramic diffusion bonds

  1. Vila, M.
  2. Prieto, C.
  3. Miranzo, P.
  4. Osendi, M.I.
  5. Terry, A.E.
  6. Vaughan, G.B.M.
Revista:
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

ISSN: 0168-583X

Año de publicación: 2005

Volumen: 238

Número: 1-4

Páginas: 119-123

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1016/J.NIMB.2005.06.030 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus