High-level allocation to minimize internal hardware wastage

  1. Molina, MC
  2. Mendias, JM
  3. Hermida, R
Libro:
DESIGN, AUTOMATION AND TEST IN EUROPE CONFERENCE AND EXHIBITION, PROCEEDINGS

ISBN: 0-7695-1870-2

Año de publicación: 2003

Páginas: 264-269

Congreso: Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 03)

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS