A microspectroscopic study of cap damage in annealed RE-doped AlN-capped

  1. Nogales, E.
  2. Lorenz, K.
  3. Wang, K.
  4. Roqan, I. S.
  5. Martin, R. W.
  6. O'Donnell, K. P.
  7. Alves, E.
  8. Ruffenach, S.
  9. Briot, O.
Col·lecció de llibres:
GAN, AIN, INN AND RELATED MATERIALS
  1. Kuball, M (coord.)
  2. Myers, TH (coord.)
  3. Redwing, JM (coord.)
  4. Mukai, T (coord.)

ISSN: 0272-9172

ISBN: 1-55899-846-2

Any de publicació: 2006

Volum: 892

Pàgines: 625-626

Congrés: Symposium on GaN, AIN, InN Related Materials held at the 2005 MRS Fall Meeting

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS