A microspectroscopic study of cap damage in annealed RE-doped AlN-capped

  1. Nogales, E.
  2. Lorenz, K.
  3. Wang, K.
  4. Roqan, I. S.
  5. Martin, R. W.
  6. O'Donnell, K. P.
  7. Alves, E.
  8. Ruffenach, S.
  9. Briot, O.
Büchersammlung:
GAN, AIN, INN AND RELATED MATERIALS
  1. Kuball, M (coord.)
  2. Myers, TH (coord.)
  3. Redwing, JM (coord.)
  4. Mukai, T (coord.)

ISSN: 0272-9172

ISBN: 1-55899-846-2

Datum der Publikation: 2006

Ausgabe: 892

Seiten: 625-626

Kongress: Symposium on GaN, AIN, InN Related Materials held at the 2005 MRS Fall Meeting

Art: Konferenz-Beitrag

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Fuente de los datos: WoS