Phase separation in reduced LiNbO3

  1. Bazhenov, A
  2. Shmyt'ko, I
  3. Red'kin, B
  4. Vieira, S
  5. Enciso, E
Colección de libros:
DEFECT RECOGNITION AND IMAGE PROCESSING IN SEMICONDUCTORS 1997
  1. Donecker, J (coord.)
  2. Rechenberg, I (coord.)

ISSN: 0951-3248

ISBN: 0-7503-0500-2

Año de publicación: 1998

Volumen: 160

Páginas: 425-428

Congreso: 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP-VII)

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS