Robust estimation based on one-shot device test data under log-normal lifetimes

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
Revista:
Statistics

ISSN: 1029-4910,  0233-1888

Any de publicació: 2023

Volum: 57

Número: 5

Pàgines: 1061-1086

Tipus: Article

DOI: 10.1080/02331888.2023.2240925 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus