Robust estimation based on one-shot device test data under log-normal lifetimes

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
Revista:
Statistics

ISSN: 1029-4910,  0233-1888

Ano de publicación: 2023

Volume: 57

Número: 5

Páxinas: 1061-1086

Tipo: Artigo

DOI: 10.1080/02331888.2023.2240925 GOOGLE SCHOLAR
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