Robust estimation based on one-shot device test data under log-normal lifetimes
- Balakrishnan, N.
- Castilla, E.
ISSN: 1029-4910, 0233-1888
Datum der Publikation: 2023
Ausgabe: 57
Nummer: 5
Seiten: 1061-1086
Art: Artikel
ISSN: 1029-4910, 0233-1888
Datum der Publikation: 2023
Ausgabe: 57
Nummer: 5
Seiten: 1061-1086
Art: Artikel