Robust estimation based on one-shot device test data under log-normal lifetimes

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
Aldizkaria:
Statistics

ISSN: 1029-4910,  0233-1888

Argitalpen urtea: 2023

Alea: 57

Zenbakia: 5

Orrialdeak: 1061-1086

Mota: Artikulua

DOI: 10.1080/02331888.2023.2240925 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus