High-resolution transmission electron microscopic analysis of porous silicon/silicon interface

  1. Martín-Palma, R.J.
  2. Pascual, L.
  3. Landa, A.
  4. Herrero, P.
  5. Martínez-Duart, J.M.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Año de publicación: 2004

Volumen: 85

Número: 13

Páginas: 2517-2519

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.1797558 GOOGLE SCHOLAR
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