Métodos de caracterización espectral de la emisión de láseres de semiconductor

  1. GARCIA VICENTE DE VERA ENRIQUE

Universidad de defensa: Universidad Complutense de Madrid

Año de defensa: 1990

Tribunal:
  1. Francisco Sánchez Quesada Presidente
  2. Germán González Díaz Secretario
  3. Javier Pelayo Vocal
  4. Miguel Angel Muriel Fernandez Vocal
  5. José Luis Escudero Soto Vocal

Tipo: Tesis

Teseo: 25026 DIALNET

Resumen

ESTE TRABAJO TIENE COMO OBJETIVO FUNDAMENTAL EL DESARROLLO DE METODOS DE CARACTERIZACION DE LAS PROPIEDADES ESPECTRALES DE LOS LASERES DE SEMICONDUCTOR MAS INTERESANTES PARA LAS APLICACIONES EN COMUNICACION COTERENTES, EN CONCRETO LAS CARACTERISTICAS DE MODULACION EN FRECUENCIA Y LA ANCHURA ESPECTRAL MONOMODO. PARA AQUELLAS SE ESTA DESARROLLADO UN NUEVO METODO DE MEDIDA, BASADO EN UN EFECTO DEBIDO A LA PRESENCIA DE UNA CAVIDAD EXTERNA PASIVA. TAMBIEN SE HA DESARROLLADO UN MODELO TEORICO CAPAZ DE DESCRIBIR ESTE EFECTO.