Nanoscopic study of ZnO films by electron beam induced current in the scanning tunneling microscope

  1. Urbieta, A.
  2. Fernández, P.
  3. Piqueras, J.
  4. Vasco, E.
  5. Zaldo, C.
Revista:
Journal of Optoelectronics and Advanced Materials

ISSN: 1454-4164

Any de publicació: 2004

Volum: 6

Número: 1

Pàgines: 183-188

Tipus: Article

GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus