Nanoscopic study of ZnO films by electron beam induced current in the scanning tunneling microscope

  1. Urbieta, A.
  2. Fernández, P.
  3. Piqueras, J.
  4. Vasco, E.
  5. Zaldo, C.
Revista:
Journal of Optoelectronics and Advanced Materials

ISSN: 1454-4164

Año de publicación: 2004

Volumen: 6

Número: 1

Páginas: 183-188

Tipo: Artículo

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