Nanoscopic study of ZnO films by electron beam induced current in the scanning tunneling microscope

  1. Urbieta, A.
  2. Fernández, P.
  3. Piqueras, J.
  4. Vasco, E.
  5. Zaldo, C.
Zeitschrift:
Journal of Optoelectronics and Advanced Materials

ISSN: 1454-4164

Datum der Publikation: 2004

Ausgabe: 6

Nummer: 1

Seiten: 183-188

Art: Artikel

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