Study of growth hillocks in GaN:Si films by electron beam induced current imaging

  1. Herrera Zaldivar, M.
  2. Fernández, P.
  3. Piqueras, J.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 2001

Volumen: 90

Número: 2

Páginas: 1058-1060

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.1379773 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus