Influence of the calibration kit on the estimation of parasitic effects in HEMT devices at microwave frequencies

  1. Miranda, J.M.
  2. Fager, C.
  3. Zirath, H.
  4. Sakalas, P.
  5. Muñoz, S.
  6. Sebastián, J.L.
Revista:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 0018-9456

Any de publicació: 2002

Volum: 51

Número: 4

Pàgines: 650-655

Tipus: Article

DOI: 10.1109/TIM.2002.803077 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus