Influence of the calibration kit on the estimation of parasitic effects in HEMT devices at microwave frequencies

  1. Miranda, J.M.
  2. Fager, C.
  3. Zirath, H.
  4. Sakalas, P.
  5. Muñoz, S.
  6. Sebastián, J.L.
Revista:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 0018-9456

Ano de publicación: 2002

Volume: 51

Número: 4

Páxinas: 650-655

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TIM.2002.803077 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus