Influence of the calibration kit on the estimation of parasitic effects in HEMT devices at microwave frequencies

  1. Miranda, J.M.
  2. Fager, C.
  3. Zirath, H.
  4. Sakalas, P.
  5. Muñoz, S.
  6. Sebastián, J.L.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

ISSN: 0018-9456

Datum der Publikation: 2002

Ausgabe: 51

Nummer: 4

Seiten: 650-655

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TIM.2002.803077 GOOGLE SCHOLAR
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