X-ray fluorescence analysis by the fundamental parameters method without explicit knowledge of the excitation beam spectrum

  1. Delgado Martínez, V.
  2. Martínez Hidalgo, C.
  3. Barrea, R.A.
Revista:
X-Ray Spectrometry

ISSN: 0049-8246

Any de publicació: 2000

Volum: 29

Número: 3

Pàgines: 245-248

Tipus: Article

GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus