X-ray fluorescence analysis by the fundamental parameters method without explicit knowledge of the excitation beam spectrum
- Delgado Martínez, V.
- Martínez Hidalgo, C.
- Barrea, R.A.
ISSN: 0049-8246
Datum der Publikation: 2000
Ausgabe: 29
Nummer: 3
Seiten: 245-248
Art: Artikel