X-ray fluorescence analysis by the fundamental parameters method without explicit knowledge of the excitation beam spectrum

  1. Delgado Martínez, V.
  2. Martínez Hidalgo, C.
  3. Barrea, R.A.
Revista:
X-Ray Spectrometry

ISSN: 0049-8246

Ano de publicación: 2000

Volume: 29

Número: 3

Páxinas: 245-248

Tipo: Artigo

GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus