X-ray fluorescence analysis by the fundamental parameters method without explicit knowledge of the excitation beam spectrum

  1. Delgado Martínez, V.
  2. Martínez Hidalgo, C.
  3. Barrea, R.A.
Aldizkaria:
X-Ray Spectrometry

ISSN: 0049-8246

Argitalpen urtea: 2000

Alea: 29

Zenbakia: 3

Orrialdeak: 245-248

Mota: Artikulua

GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus