Electron-beam-induced current study of electrically active defects in 4H-SiC
ISSN: 0953-8984
Any de publicació: 2004
Volum: 16
Número: 2
Tipus: Aportació congrés
ISSN: 0953-8984
Any de publicació: 2004
Volum: 16
Número: 2
Tipus: Aportació congrés