Electron-beam-induced current study of electrically active defects in 4H-SiC
ISSN: 0953-8984
Datum der Publikation: 2004
Ausgabe: 16
Nummer: 2
Art: Konferenz-Beitrag
ISSN: 0953-8984
Datum der Publikation: 2004
Ausgabe: 16
Nummer: 2
Art: Konferenz-Beitrag