Electron-beam-induced current study of electrically active defects in 4H-SiC
ISSN: 0953-8984
Ano de publicación: 2004
Volume: 16
Número: 2
Tipo: Achega congreso
ISSN: 0953-8984
Ano de publicación: 2004
Volume: 16
Número: 2
Tipo: Achega congreso